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ANSI/ESD STM3.1-2000 静电放电敏感物品的防护试验方法.电离

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 21:14:31  浏览:9843   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:TestMethodforProtectionofElectrostaticDischargeSusceptibleItems-Ionization
【原文标准名称】:静电放电敏感物品的防护试验方法.电离
【标准号】:ANSI/ESDSTM3.1-2000
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:放电;物理性能;静电学;材料试验
【英文主题词】:materialstesting;electricdischarges;physicalproperties;electrostatics
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:19_080
【页数】:
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:半导体器件 第12-1部分: 光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范
英文名称:Semiconductor devices-Part 12-1:Optoelectronic devices-Blank detail specification for light emitting/infrared emitting diodes with/without pigtail for fiber optic systems or sub-systems
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 光电子器件 >> 红外器件
ICS分类: 电子学 >> 光电子学、激光设备
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2002-12-01
实施日期:2003-05-01
首发日期:2002-12-04
作废日期:1900-01-01
主管部门:信息产业部(电子)
提出单位:中华人民共和国信息产业部
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:中国电子技术标准化研究所(CESI)
起草人:赵英
出版社:中国标准出版社
出版日期:2003-05-01
页数:平装16开, 页数:12, 字数:23千字
书号:155066.1-19451
适用范围

IEC 电子器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行地电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范使半导体器件的一系列空白详细规范之一,并应与下列IEC标准一起使用。IEC 60747-10/QC 700000:1991 半导体器件 第10部分 分立器件和集成电路总规范。IEC 60747-12/QC 720100:1991 半导体器件 第12部分 光电子器件分规范

前言

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引用标准

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所属分类: 电子元器件与信息技术 光电子器件 红外器件 电子学 光电子学 激光设备
Product Code:SAE J137
Title:Lighting and Marking of Agricultural Equipment on Highways (Cancelled Jul 1996, Superseded by ASAE S279.9)
Issuing Committee:Agricultural Tractor Standards Committee (Atsc)
Scope: To provide specifications for lighting and marking of agricultural equipment whenever such equipment is operated or traveling on a highway.